ZM2371/ZM2372覆蓋了1mHz～100kHz、ZM2376覆蓋了1mHz～5.5MHz的頻率範圍。並可設定5位數/6位數的分辨率*，因此除了在實際使用頻率對各種部件進行測量外，還可以對參數的頻率依賴性進行評價。
* ZM2371/ZM2372：5位數、ZM2376：6位數

對10mVrms～5Vrms/1μArms～200mArms的測量信號電平可進行3位數分辨率的設置。另外，利用ALC（自動電平控制）功能可以設置定電壓/定電流驅動，因此可用考慮到試樣電壓/電流依賴性的穩定驅動信號來驅動，可實現高再現性的測量。

測量時間可以在RAP (Rapid)，FAST，MED (Medium)，SLOW，VSLO (Very Slow) 這5種等級切換。選擇RAP，可以實現2ms (1kHz/1MHz)、10ms (120Hz) 的快速測量。快速、高精度的LCR測量儀有助於提高生產線及自動檢查裝置的測量效率。

實現了基本精度0.08%、顯示分辨率最多6位數的高精度測量。值得信賴的測量在從最先端器件的開發到檢查線零部件分選，對提高產品性能和品質不可或缺的。

ZM2371/ZM2372內置了0～＋2.5V、ZM2376內置了0～＋5V的DC偏置用電源，可以測量電解電容等極性零部件。
ZM2376還可以快速測量鋰離子電池（單電池）等的阻抗。
另外，如果使用選購的DC電壓偏置適配器*，可在試樣上加載
±40V的偏置電壓，測量大容量積層陶瓷電容的電壓依賴性等。
*選購

可測量線圈及變壓器的捲線電阻的直流電阻。可以同時在主參數中顯示電感，在副參數中顯示直流電阻的測量值。

●  ZM2372

4端子接觸檢查

步驟1 : 檢查點線之間是否接通 （接觸檢查） 接觸不良時做出不良判定 步驟2 : 步驟1的接觸檢查後，進行點線間測量（主測量）

●  ZM2376

接觸檢查、低容量檢查

可以只在接觸期間驅動試樣的功能。
可以降低在測量大容量電容時，由於安裝拆卸試樣造成的接觸損傷。在短時間內進行測量履歷特性的試樣，測量值會出現較大的誤差。如使用觸發電路同步驅動的話，加在各試樣上的驅動信號和取得信號的時間以及相位關係都是固定的，可以抑制測量值的誤差，大幅縮短測量時間。

預先設置測量部件的顯示值，可顯示與預設值的偏差、偏差%。可應用於零部件容許差的規格值的合格判定及溫度特性試驗等。

主參數最大可分為14個*的BIN類別，在副參數中可以對設定好的1組上下限值的測量結果進行分選。測量值可通過偏差或偏差%進行分選，判定結果通過處理器接口*輸出。另外，根據判定結果，有時會發出嗶噗的聲音。
在遠程控制中，使用限值判定功能，也可以對主參數、副參數的上下限值（各1組）進行判定。
* ZM2371：最多分9類，未配備處理器接口。

複合測量是指對一個試樣最多可指定32個步驟的測量條件測量，綜合的進行合格判定的功能。可設定每個步驟的測量頻率、測量信號電平、內部DC偏壓、測量參數等，對主參數的上下限值1組、副參數的上下限值1組進行測量和限值判定。
* ZM2376獨有的功能。

接口

標配遠程控制用的各種接口。無需追加選購件就可對應生產線嵌入及自動檢查系統等。

●  ZM2376後面板

其他功能

• 補正功能（開路補正，短路補正，負載補正，電纜線補正）
• 設置、補正值存儲（32組、保存在不揮發性儲存中、可切換）
• 監視顯示（電壓、電流）
• 放電保護
• 樣板程序（C#、VB.NET）
• 標配LabVIEW驅動＜ZM2371/ZM2372＞
• IVI計測器驅動（在LabVIEW的系統上自動生成LabVIEW驅動）＜ZM2376＞